입찰기업
에프이아이코리아 주식회사
104-86-42437
사업자번호
윤우종
대표자
37건
낙찰 건수
7,883,813,110원
낙찰 추정가 합계
연도별 낙찰 내역
2026년6건 · 1,112,375,960원
공동기기센터 FIB 보드 교체_연구지원과18,328,200원주사전자현미경 전자빔 소스 교체29,317,750원주사전자현미경(후방산란전자검출기)35,800,000원전자현미경 연간정비 보수 용역(수의시담)123,831,860원[전계방사형 투과전자현미경] 부품 교체 수리 용역96,598,150원단면 주사전자현미경808,500,000원2025년18건 · 5,049,745,900원
공동기기센터 FIB 부품 구매_연구지원과29,086,200원[전자시담] 투과전자현미경 노후 부품(FEG 제어 보드) 구매28,411,900원집속이온빔 시스템 Electron-Gun 부품교체89,900,000원반도체 소모품 실증센터 투과전자현미경 구매2,298,000,000원F/G,FEG SIRION RETIP CONSFEG23,230,900원[수의시담] FIB ion source 교체27,900,000원[수의시담]고분해능 바이오 투과전자현미경의 고전압 전원장치(HT Tank) 구매180,886,200원HSModule Nicol G2,RBLD31,846,100원[수의시담] X-FEG Mono Emitter49,900,000원연구장비 집적화를 위한 TEM장비 이전 설치 용역99,900,000원F/G,FEG RETIP23,184,700원환경주사전자현미경 구매456,000,000원초저온 대기비개방 시스템237,600,000원전자현미경 Field Emission Gun Source22,338,800원TEM 시편 가공 등의 용도로 활용되는 Helios 5 CX(이온분석기)의 소모품 교체39,033,500원반도체 소모품 실증센터 집속이온빔 장비 구축 구매1,342,000,000원공동기기센터 FIB 부품 교체_연구지원과29,060,900원다기능 집속이온빔 시스템 FEG Source 교체41,466,700원2024년13건 · 1,721,691,250원
[수의시담] Emitter X-FEG (전자총) 구매27,830,000원전면 광자/열 검출 시스템1,300,600,000원[수의시담] 고분해능 투과전자현미경 Emitter low drift mono 수리 교체33,933,900원(전자시담) 초고분해능/전계방출주사전자현미경 소모성 부품 구매58,286,800원전계방사형 투과전자현미경 건 교체32,705,200원주사전자현미경 Gun21,945,000원초점 이온빔 주사전자현미경 전자빔소스 부품 구매35,064,700원전계방사형 투과전자현미경 X-FEG 부품 교체 수리 용역42,889,550원3차원 X-ray 시스템의 유지보수57,830,300원[수의시담]초저온투과전자현미경 시스템 분석용 소모품30,509,600원주사현미경(SEM) 수리25,962,200원FEG Connector SPARES34,474,000원공동기기센타 FIB 재설치 용역19,660,000원본 정보는 조달청 나라장터 공공데이터(OpenAPI)를 기반으로 제공되며, 실제 입찰 참여·법적 효력은 나라장터(g2b.go.kr) 원문을 기준으로 합니다.